涂層測(cè)厚儀

簡要描述：AT－2011型涂層測(cè)厚儀(鍍層測(cè)厚儀)測(cè)量范圍：0～1200um，采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定。

產(chǎn)品型號(hào)：AT-2011
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-11-14
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詳情介紹

AT-2011涂層測(cè)厚儀概述：

AT－2011型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～1200um，采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的良好水平。

AT-2011應(yīng)用范圍：

本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

AT-2011工作原理：

AT-2011型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

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